テストソケット

テストソケットは、半導体デバイス（ICチップやパッケージ）の電気特性検査や機能テストを行う際に、一時的に接続するための接点機構を持つ治具（インターフェース部品）です。

半導体を基板にはんだ付けする前や出荷前に、テスタ（検査装置）とデバイスを電気的に接続する役割を担い、繰り返し着脱しながら高速かつ高精度な検査を可能にします。

内部には多数のコンタクトピン（プローブ）が配置されており、デバイスの端子（リード、バンプ、ボールなど）と確実に接触する設計となっています。高周波対応や微細ピッチ対応など、対象デバイスの進化に応じて高性能化が進んでいます。

用途としては、ウェハテスト後のパッケージテスト、バーンイン試験、最終検査などがあり、半導体の品質保証工程において不可欠な部品です。