AOI

AOI（Automated Optical Inspection／自動外観検査）は、カメラや画像処理技術を用いて、基板や半導体製品の外観不良を自動的に検出する検査手法です。

主にプリント基板（PCB）や半導体パッケージ工程において、はんだ不良、部品のズレ・欠品、配線パターン異常、傷・汚れなどを高速かつ高精度に検出するために使用されます。

人手検査に比べて、検査のばらつきを抑えつつ、生産ラインの自動化・品質安定化に大きく貢献します。